テーマ：JTAGの説明
正解はこちら
解答：ウ
[基礎知識・用語のまとめ]
バウンダリスキャンテスト・・・二つのIC間で端子同士が正常に配線されているかを確認するテストです。ICが高集積化したため、あらかじめ回路に組み込まれるようになった機構で行うテストで、配線だけでなく、はんだ付け不良によるブリッジも検出します。この技術はJTAG（Joint Test Action Group）にて、IEEE149.1として標準化されています。
ビルドインセルフテスト・・・テストパターン発生部とテスト判定部がICチップに組み込まれている方式である。
集積化が進み、外部からのテストを試みることが困難になってきたようね！
[解法]
基礎知識より、「ウ」が正解となります。
[参考]
JTAGは現在は、規格の名称として利用されており、規格名を制定した団体の名称「Joint Test Action Group」が、そのままJTAGという規格の名称となった、、、らしい。
利用させていただきました素材へのリンク
うさちゃこちゃんねる様 https://www.youtube.com/channel/UCQcDdg4W6r5OfcB1JTcpABw
ここまで読んでくれてありがとう！！
感謝！
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